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來源資料
科儀新知
32:1=177 2010.08[民99.08]
頁6-12
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題名
高靈敏度掃描電容顯微術之發展與應用=Development and Applications of High-Sensitivity Scanning Capacitance Microscopy
作者姓名(中文)
張茂男
;
黃智超
;
簡鳳佐
;
書刊名
科儀新知
卷期
32:1=177 2010.08[民99.08]
頁次
頁6-12
專輯
奈米檢測與應用專題
分類號
471.713
關鍵詞
掃描電容顯微術
;
微分電容訊號
;
高靈敏度
;
Scanning capacitance microscopy
;
語文
中文(Chinese)
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