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題 名 | Microstructrual Effects of the Sn-Al and Sn-Cu Thin Films on the Electromagnetic Interference Shielding for the Advanced Building Materials=先進建材:錫鋁與錫銅奈米薄膜顯微組織對電磁波遮蔽特性之影響 |
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作 者 | 洪飛碩; 洪飛義; 江哲銘; 呂傳盛; | 書刊名 | 建築學報 |
卷 期 | 71 2010.03[民99.03] |
頁 次 | 頁177-186 |
分類號 | 441.4 |
關鍵詞 | 電磁波遮蔽; 錫鋁; 錫銅; 濺鍍; Electromagnetic interference; EMI; Sn-Al; Sn-Cu; Sputtering; |
語 文 | 英文(English) |