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題 名 | 奈米光學檢測--高解析度近場光學顯微鏡的應用=Nano-optics Detection--The Application of High Resolution Scanning Near-field Optical Microscope |
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作 者 | 朱仁佑; | 書刊名 | 工業材料 |
卷 期 | 283 2010.07[民99.07] |
頁 次 | 頁75-84 |
專 輯 | 光電材料業者在後ECFA時代仍應持續加強研發 |
分類號 | 471.713 |
關鍵詞 | 散射式掃描近場光學顯微鏡; 電漿子共振; 奈米光學; 藍光光碟; Scattering-type scanning near-field optical microscope; s-SNOM; Plasmon resonance; Nano-optics; Blue-ray disc; |
語 文 | 中文(Chinese) |