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來源資料
中國機械工程學刊
29:1 2008.02[民97.02]
頁45-51
電機工程
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電燈廠
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題 名
Integrated Two Hopfield Neural Networks for Automatic LED Defect Inspection=整合雙霍菲爾類神經網路於自動化LED缺陷檢測
作 者
張傳育
;
張傳旺
;
林思延
;
鄭慕德
;
書刊名
中國機械工程學刊
卷 期
29:1 2008.02[民97.02]
頁 次
頁45-51
分類號
448.57
關鍵詞
晶圓
;
缺陷檢測
;
霍菲爾類神經網路
;
Hopfield neural networks
;
LED
;
Defect inspection
;
語 文
英文(English)
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