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來源資料
零組件雜誌
189 2007.07[民96.07]
頁80-82+84-86
電機工程
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電燈廠
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題名
IEEE 1500標準測試封套設計與驗證測試方法
作者
高琮評
;
邱畊銘
;
李建模
;
書刊名
零組件雜誌
卷期
189 2007.07[民96.07]
頁次
頁80-82+84-86
分類號
448.57
關鍵詞
系統晶片
;
IEEE 1500標準測試封套
;
延遲錯誤測試
;
晶片設計
;
語文
中文(Chinese)
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