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來源資料
電子檢測與品管
71 2007.07[民96.07]
頁51-54
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題名
金屬表面錫鬚長成觀測與分析--SEM/EDS應用與探討
作者姓名(中文)
洪宏偉
;
書刊名
電子檢測與品管
卷期
71 2007.07[民96.07]
頁次
頁51-54
專輯
可靠度測試分析技術與智慧財產權管理
分類號
448.533
關鍵詞
錫鬚
;
電子元件
;
無鉛製程
;
SEM
;
EDS
;
語文
中文(Chinese)
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