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題 名 | The Analysis on the Offset Error of Cross-section Contour by Using the Simulated Measurement Model of Atomic Force Microscopy=模擬原子力顯微鏡對截面輪廓偏移之誤差分析 |
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作 者 | 林榮慶; 黃仁清; 曾柏展; | 書刊名 | 中國機械工程學刊 |
卷 期 | 28:1 2007.02[民96.02] |
頁 次 | 頁23-33 |
分類號 | 337.97 |
關鍵詞 | 原子力顯微鏡; 奈米級量測; Atomic force microscopy; Morse potential; Constant force mode; Cross-section angle; |
語 文 | 英文(English) |