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題名 | The Analysis on the Offset Error of Cross-section Contour by Using the Simulated Measurement Model of Atomic Force Microscopy=模擬原子力顯微鏡對截面輪廓偏移之誤差分析 |
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作者 | 林榮慶; 黃仁清; 曾柏展; Lin, Zone-ching; Huang, Jen-ching; Zeng, Bo-jhan; |
期刊 | 中國機械工程學刊 |
出版日期 | 20070200 |
卷期 | 28:1 2007.02[民96.02] |
頁次 | 頁23-33 |
分類號 | 337.97 |
語文 | eng |
關鍵詞 | 原子力顯微鏡; 奈米級量測; Atomic force microscopy; Morse potential; Constant force mode; Cross-section angle; |