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來源資料
臺灣奈米會刊
8 2007.03[民96.03]
頁31-37
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題 名
原子力顯微術的原理與架構及在國內的最新發展=Atomic Force Microscopy: Principles, Architechture, and Recent Domestic Developments
作 者
張嘉升
;
洪紹剛
;
書刊名
臺灣奈米會刊
卷 期
8 2007.03[民96.03]
頁 次
頁31-37
專 輯
奈米量測與檢驗
分類號
471.713
關鍵詞
原子力顯微術
;
掃描探針顯微術
;
語 文
中文(Chinese)
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