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來源資料
臺灣奈米會刊
4 民95.03
頁44-49
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題 名
磁性隨機存取記憶體之錯誤模型與測試=Magnetic Random Access Memory Fault Modeling and Testing
作 者
黃睿夫
;
書刊名
臺灣奈米會刊
卷 期
4 民95.03
頁 次
頁44-49
專 輯
自旋電子
分類號
471.6523
關鍵詞
磁性隨機存取記憶體
;
MRAM
;
語 文
中文(Chinese)
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