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來源資料
科儀新知
24:3=131 2002.12[民91.12]
頁27-39
精密機械工藝
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光學儀器
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匯出書目
題 名
電性掃描探針顯微術簡介=Introduction to Electric Scanning Probe Microscopy
作 者
張茂男
;
陳志遠
;
潘扶民
;
書刊名
科儀新知
卷 期
24:3=131 2002.12[民91.12]
頁 次
頁27-39
專 輯
半導體材料分析技術專題
分類號
471.7
關鍵詞
電性掃描探針顯微術
;
掃描探針顯微鏡
;
Scanning probe microscope
;
SPM
;
語 文
中文(Chinese)
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