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來源資料
量測資訊
93 2003.09[民92.09]
頁16-23
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題名
掃描探針顯微儀器技術
作 者
陳譽元
;
書刊名
量測資訊
卷期
93 2003.09[民92.09]
頁次
頁16-23
專輯
掃描探針顯微技術與應用
分類號
471.713
關鍵詞
掃描探針顯微鏡
;
材料表面特性
;
Scanning prodbe microscope
;
SPM
;
語文
中文(Chinese)
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