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來源資料
科儀新知
27:3=149 民94.12
頁51-56
工程學總論
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題 名
二維平面上之金屬奈米粒子陳列--製備方法及顯微檢測技術=Preparation and Microscopic Characterization of Metal Nanoparticle Arrays
作 者
果尚志
;
林孟賢
;
書刊名
科儀新知
卷 期
27:3=149 民94.12
頁 次
頁51-56
分類號
440.34
關鍵詞
二維平面
;
金屬奈米粒子陳列
;
顯微檢測
;
語 文
中文(Chinese)
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