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題 名 | 建立以ANFIS模糊推論系統為基礎之電容瓷片外觀瑕疵分類與製程管制模式=Construction of ANFIS Based Fuzzy Inference System for Surface Defect Classfication and Process Control Models of SBL Chips |
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作 者 | 林宏達; 陳育洺; | 書刊名 | 朝陽學報 |
卷 期 | 10 2005.06[民94.06] |
頁 次 | 頁1-41 |
分類號 | 494.568 |
關鍵詞 | 調適性類神經模糊推論系統; 瑕疵分類; 統計多重比較; 變異數分析; 模糊推論管制圖; Adaptive-network based fuzzy inference system; Defect calssification; Analysis of variance; Statisical multiple comparison methods; Fuzzy inference control chart; |
語 文 | 中文(Chinese) |