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題 名 | 建構半導體製造管理目標層級架構與製造資料之資料挖礦=Constructing Semiconductor Manufacturing Performance Indexes and Applying Data Mining for Manufacturing Data Analysis |
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作 者 | 簡禎富; 蕭禮明; 王興仁; | 書刊名 | 工業工程學刊 |
卷 期 | 21:4 2004.07[民93.07] |
頁 次 | 頁313-327 |
分類號 | 494.542 |
關鍵詞 | 資料挖礦; 製造資料分析; 半導體製造管理; 目標層級架構; 決策分析; Data mining; Manufacturing data analysis; Semiconductor manufacturing management; Performance index hierarchy; Decision analysis; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 半導體廠製造管理績效指標間的關係複雜且彼此影響,難以用簡單的模式或依賴人為直觀方法加以釐清。然而,既有半導體製造管理研究大多偏重個別指標之局部最佳化。本研究回顧相關文獻、訪談領域專家,以發展半導體製造管理指標層級,並定義各個指標及其使用規則,讓管理者或決策者能夠了解指標之間的關係,以協助使用者作為管理之依據。本研究並進而以某半導體廠為實證以檢驗其效度,分析實際生產時的資料,利用資料挖礦找出指標間特殊的樣型與規則,以實證推導的模式和指標之間的具體關係,作為半導體廠製造管理決策的參考。 |
英文摘要 | The indexes for semiconductor manufacturing management are complicated and interrelated. Therefore, it is hard to clarify the relationships among the indexes and to derive useful rules for production management. Existing approaches rely on following individual indexes without considering the production system as a whole. This study aims to fill the gap by reviewing the related studies on semiconductor manufacturing management and developing a complete set of performance indexes in hierarchy. In addition, we apply data mining techniques for analyzing production data collected in a semiconductor fab in Taiwan to validate this approach. The empirically derived patterns among the critical indexes were useful for supporting production management decisions. The results demonstrate the practical viability of this approach. This study concludes with results and discussion on future research. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。