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來源資料
工業材料
213 2004.09[民93.09]
頁140-148
工程學總論
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材料科學
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題 名
材料奈米檢測技術規畫與發展
作 者
洪健龍
;
書刊名
工業材料
卷 期
213 2004.09[民93.09]
頁 次
頁140-148
專 輯
奈米平臺技術特刊
分類號
440.2
關鍵詞
奈米材料檢測
;
微結構分析
;
奈米尺寸
;
微區物化性分析
;
微區磁光電分析
;
掃描探針顯微術
;
穿透式電子顯微鏡
;
表面介面分析
;
語 文
中文(Chinese)
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