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題 名 | 奈米工具:掃描探針顯微設備=Nano-tool: Scanning Probe Microscope |
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作 者 | 陳燦林; 陳譽元; 戴鴻名; | 書刊名 | 機械工業 |
卷 期 | 255 2004.06[民93.06] |
頁 次 | 頁195-204 |
專 輯 | 奈米機械技術專輯 |
分類號 | 471.713 |
關鍵詞 | 掃描力顯微鏡; 掃描穿隧顯微鏡; 掃描探針顯微鏡; Scanning tunneling microscope; STM; Scanning force microscope; SFM; Scanning probe microscope; SPM; |
語 文 | 中文(Chinese) |