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來源資料
標準與檢驗
61 2004.01[民93.01]
頁75-79
電學;電子學
>
電子光學;離子光學 Electron ; Ion Optics
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題名
奈米尺度量測儀器「原子力顯微鏡」簡介
作者
方冠權
;
書刊名
標準與檢驗
卷期
61 2004.01[民93.01]
頁次
頁75-79
分類號
337.97
關鍵詞
奈米尺度量測儀器
;
原子力顯微鏡
;
語文
中文(Chinese)
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