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題名 | 美國專利爭議制度與機關之探討=Review of U.S. Patent Appeal System |
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作者 | 葉德輝; Yeh, Te-hui; |
期刊 | 輔仁法學 |
出版日期 | 200306 |
卷期 | 25 2003.06[民92.06] |
頁次 | 頁157-194 |
分類號 | 440.652 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 美國專利商標局; 專利上訴及爭議委員會; 聯邦巡迴上訴法院; 再審查程序; 確認判決; United states patent and trademark office; Board of patent appeals and interferences; Court of appeals for the federal circuit; Reexamination; Declaratory judgment; |