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來源資料
量測資訊
92 2003.07[民92.07]
頁16-20
理論物理學
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匯出書目
題名
線距量測及標準追溯
作者姓名(中文)
陳朝榮
;
書刊名
量測資訊
卷期
92 2003.07[民92.07]
頁次
頁16-20
專輯
半導體計量標準
分類號
331.86
關鍵詞
線距
;
量測
;
計量型原子力顯微鏡
;
電射繞射儀
;
語文
中文(Chinese)
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