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題 名 | 電線短路熔痕以二次離子質譜儀(SIMS)作表面分析之鑑識方法=Analysis of Fire Investigation for Short Circuit by Applying Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS) |
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作 者 | 王靜婷; 陳火炎; 江金龍; | 書刊名 | 弘光學報 |
卷 期 | 38 2001.11[民90.11] |
頁 次 | 頁43-48 |
分類號 | 575.872 |
關鍵詞 | 一次痕; 二次痕; 熱痕; 二次離子質譜儀; 縱深分佈分析; The cause of the fire; Resulted from the fire; Cooper microstructure; Secondaryion mass spectroscopy; Depth prfiling analysis; SIMS; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 電氣火災發生因素中電源線短路所形成一次痕與二次痕之判別為火災調查研究者 所欲突破之關鍵,然由於熔痕外觀檢視法以及金相分析法已遭遇研究發展上之瓶頸,本研究 試圖引用另一種分析技術來探討銅質導線短路熔痕其內部之化學組成,即二次離子質譜儀( Secondary Ion Mass Spectroscopy; SIMS )分析技術,希望能藉由 SIMS 良好的縱深解析 度與高靈敏度,從所偵測到之訊息分析整理後提出一次痕、二次痕判定之特徵依據。 |
英文摘要 | To determine whether the short circuit was the cause of the fire or resulted from the fire from the electrical fires is the key point to break through by the researchers of fire investigation even if the observation of cooper microstructure doesn't do it well. Another analytical technique can be used in this research to try to understand the chemical component of the cooper arc bead, it's "Secondary Ion Mass Spectroscopy, SIMS". We want to use its good sensitivity of "Depth Profiling Analysis" to get the sufficient and useful information to determine between the short circuit was the cause of fire or resulted from the fire. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。