您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
指令檢索
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
科儀新知
24:3=131 2002.12[民91.12]
頁14-26
相關文獻
飛行時間二次離子質譜儀的原理與應用
半導體工業用矽化氫(Silane)之物性及事故案例
大氣壓力游離式質譜儀在半導體工業之應用
半導體工業空氣中揮發性有機化合物之分析
快速成長中的臺灣光電產業--臺灣光電產業成功的經驗挑戰與展望
1997我國光電產業概況
透析我國LED產業競爭力
我國光電產業回顧與展望
日本光電產業發展歷程探討
我國光電產業發展趨勢分析
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
飛行時間二次離子質譜儀的原理與應用=The Principle and Applications of Secondary Ion Mass Spectrometer
作 者
陳清源
;
麥富德
;
凌永健
;
書刊名
科儀新知
卷 期
24:3=131 2002.12[民91.12]
頁 次
頁14-26
專 輯
半導體材料分析技術專題
分類號
448.552
關鍵詞
二次離子質譜儀
;
半導體工業
;
光電產業
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址