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來源資料
標準與檢驗
33 2001.09[民90.09]
頁13-27
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題名
儀器分析簡介--穿透式電子顯微鏡=Transmission Electron Microscopy
作者
蔡國良
;
期刊
標準與檢驗
出版日期
200109
卷期
33 2001.09[民90.09]
頁次
頁13-27
分類號
471.713
語文
chi
關鍵詞
儀器分析
;
穿透式電子顯微鏡
;
Transmission electron microscopy
;
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