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來源資料
科儀新知
23:6=128 2002.06[民91.06]
頁45-53
電機工程
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匯出書目
題 名
掃描探針顯微儀的電性應用及原理
作 者
許朝雄
;
張明義
;
李仲
;
張家榮
;
曾增吉
;
書刊名
科儀新知
卷 期
23:6=128 2002.06[民91.06]
頁 次
頁45-53
分類號
448.57
關鍵詞
掃描探針顯微儀
;
原子力顯微鏡
;
表面物性量測
;
Atomic force microscope
;
AFM
;
語 文
中文(Chinese)
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