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題名 | 混合信號積體電路的測試簡介=Introduction of Mixed-Signal IC Testing |
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作者 | 鄧謙郎; Deng, Chien-lang; |
期刊 | 電腦與通訊 |
出版日期 | 19990600 |
卷期 | 80 1999.06[民88.06] |
頁次 | 頁57-64 |
分類號 | 448.57 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 待測元件; 混合信號; 類比數位轉換器; 數位類比轉換器; 模擬; 實體模擬; 任意波形產生器; 數位化波形擷取器; 數位信號處理; 一致性; 抖動; Device under test; DUT; Mixed-signal; Analog-to-digital converter--A/D; ADC; Simulation; Emulation; Arbitrary waveform generator; AWG; Waveform digitizer; Digital signal process; DSP; Coherent; Jitter; Digital-to-analog converter--D/A; DAC; |
中文摘要 | 在市場競爭與輕薄短小的要求下,積體電路的產品開發必趨向 System-On-Chip的設計。在網路、通訊與影音多媒體的需求帶動下,各種混合信 號的積體電路將陸續地被開發。如何有效地驗證設計、分析特性及測試產品,將 是市場成敗的關鍵之一。 |
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