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題 名 | 弱面痕跡長度之二維視窗尺寸效應研究 |
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作 者 | 俞旗文; | 書刊名 | 中興工程 |
卷 期 | 64 1999.07[民88.07] |
頁 次 | 頁13-24 |
分類號 | 441.1 |
關鍵詞 | 弱面痕跡長度; 視窗尺寸效應; 岩體; 岩盤工程; JLD; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本研究結果顯示:對特定統計特性之母體而言,弱面痕跡長度之視窗尺度效應係 數值(�aw)為一定值。其值與視窗內淨弱面數密度(Net joint number density;NJND) 與視窗內弱面痕跡長密度( Joint trace length density;JLD )有密切關係。 由有限矩 形視窗面積( Aw )之視窗弱面痕跡長度平均值(μ w ),透過尺度效應係數值(�a w ) ,可直接預測廣域之母體平均值(μ�屆^。本文預測模式經以反推驗證法證實:不論弱面母 體痕跡長度值之統計分布為均等分布、常態分布、負指數分布、珈瑪分布等,均可適用。本 文研究中亦檢討已有之 Pahl 與 Laslett 兩者預測模式之可靠度。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。