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來源資料
國科會國家毫微米元件實驗室通訊
6:1 1999.02[民88.02]
頁17-20
電機工程
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電燈廠
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題 名
電遷移效應對銅導線可靠度之影響
作 者
吳文發
;
秦玉龍
;
書刊名
國科會國家毫微米元件實驗室通訊
卷 期
6:1 1999.02[民88.02]
頁 次
頁17-20
分類號
448.57
關鍵詞
電遷移效應
;
銅導線
;
可靠度
;
積體電路
;
語 文
中文(Chinese)
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