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來源資料
奈米通訊
13:1 民95.02
頁45-48
電機工程
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題名
淺談Negative Bias Temperature Instability (NBTI)
作者姓名(中文)
李介文
;
書刊名
奈米通訊
卷期
13:1 民95.02
頁次
頁45-48
分類號
448.57
關鍵詞
可靠度
;
積體電路
;
奈米電子
;
負偏壓溫度不穩定效應
;
NBTI
;
語文
中文(Chinese)
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