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來源資料
科儀新知
20:1=105 1998.08[民87.08]
頁5-12
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題 名
ICP-MS的基本原理
作 者
黃立心
;
林金全
;
書刊名
科儀新知
卷 期
20:1=105 1998.08[民87.08]
頁 次
頁5-12
專 輯
ICP-MS專題
分類號
343.381
關鍵詞
感應耦合電漿質譜儀
;
ICP-MS
;
語 文
中文(Chinese)
中文摘要
感應耦合電漿質譜儀因對許多元素具有偵測極限低、光譜干擾少、可進行同位素 分析等優點,成為近十餘年來迅速發展且廣泛應用的微量元素分析儀器。本文將簡介其樣品 導入裝置、感應耦合電漿與離子抽取裝置的基本原理、分析特性與使用上的限制,以及未來 儀器設計上發展改進的方向。
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