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題 名 | 晶粒度測試方法簡介=An Introduction of Grain Size Measurement |
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作 者 | 李炳坤; | 書刊名 | 技術與訓練 |
卷 期 | 22:4=185 1997.08[民86.08] |
頁 次 | 頁27-37 |
專 輯 | 冶金試驗測試 |
分類號 | 440.3 |
關鍵詞 | 晶粒度; 比較法; 面積法; 截距法; Grain size; Comparison procedure; Planimetric procedcure; Intercept procedure; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 在金相顯微組織的分析中,晶粒度量測是非常重要的一個項目,因為材料的很多 物理特性或機械性質都受晶粒度或晶粒大小分佈的影響,在本篇的討論中將要介紹各種不同 的晶粒度測試方法,包括比較法(與標準圖表比較)、面積法(計算單位面積晶粒個數), 以及截距法(計算與單位長度相切之晶粒或晶界個數),各種方法可得到不同的量測精度, 但相對的所耗費的人工亦不相同,比較法適合日常的品管作業,而面積法或截距法則適合要 求精度較高的研究分析工作。 |
英文摘要 | The grain size analysis is one of the most important microscopic measurements because of the influence of the grain size, and the grain size distribution, on the properties and behavior of materials. This paper will present the various techniques used to measure the grain size. The methods discussed include comparison techniques employing standard charts, measurement techniques base on determination of the number of grains per unit area (planimetric procedure) and the number of grains intercepted or grain boundaries intersected per unit length of a test line (intercept procedure). Comparison chart rating is adequate for routine works, but greater accuracy is obtained by measurement of the actual grain sizes. The intercept method is generally preferred to the planimetric method because of its greater speed. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。