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來源資料
科儀新知
18:1=93 1996.08[民85.08]
頁43-52
電機工程
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電燈廠
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題名
高速測試模組與高速可修補分析於記憶體IC之應用
作者
吳萬錕
;
書刊名
科儀新知
卷期
18:1=93 1996.08[民85.08]
頁次
頁43-52
專輯
微電子量測技術專題
分類號
448.57
關鍵詞
高速測試模組
;
記憶體
;
IC
;
語文
中文(Chinese)
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