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| 題 名 | Interdisciplinary Characterization of Sandwiched SiGe thin Layers Grown by Molecular Beam Epitaxy=以分子束磊晶成長之夾層矽鍺薄膜之特性 |
|---|---|
| 作 者 | Feng,Z. C.; Watt,F.; Lee,K. K.; Wee,A. T. S.; Hng,H. H.; Arbet-engels,V.; Karunasiri,R. P. G.; Wang,K. L.; Williams,K. P. J.; | 書刊名 | Journal of the Chinese Institute of Electrical Engineering |
| 卷 期 | 2:1 1995.02[民84.02] |
| 頁 次 | 頁25-28 |
| 分類號 | 448.552 |
| 關鍵詞 | 矽鍺薄膜; 分子束磊晶; 拉曼散射; 激光發光; 拉塞福背向散射光譜; SiGe/Si; MBE; Raman scattering; Photoluminescence; RBS; |
| 語 文 | 英文(English) |