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題 名 | 在型Ⅰ及型Ⅱ誤差同時控制下之不良率的檢定 |
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作 者 | 張智立; | 書刊名 | 樹德學報 |
卷 期 | 15 1994.08[民83.08] |
頁 次 | 頁367-377 |
分類號 | 314.5 |
關鍵詞 | 型Ⅰ誤差; 型Ⅱ誤差; 不完全貝它累積函數; 卡方分配; Type Ⅰ error; TypeⅡ error; Incomplete beta function; Chi-square distribution; |
語 文 | 中文(Chinese) |