查詢結果分析
來源資料
頁籤選單縮合
題名 | The computer aided TE properties measurement system=電腦輔助熱電半導體特性測試系統 |
---|---|
作者姓名(中文) | 伍祖德; | 書刊名 | 聯合學報 |
卷期 | 8 1991.11[民80.11] |
頁次 | 頁29-41 |
分類號 | 448.552 |
關鍵詞 | 半導體; 系統; 特性; 測試; 電腦輔助; 熱電; |
語文 | 英文(English) |
中文摘要 | 電腦輔助熱電半導體特性測試系統(Thermo-Electric Semiconductor Properties Measurement System, TESPMS)已成功地發展出來,此儀器能夠 同時量測締化鉛 (PbTe) 半導體之 Seebck 電壓、電阻以及測試桿上的溫度梯度 。藉著一數學模型的應用可以正確的估算通過半導體的熱量。配合著半導體試 片的尺寸,材料的 Seebeck 係數、電傳導係數以及熱傳導係數,因此能夠計算 出來,而決定半導體熱電轉換效率的參數 Z (Figure of Merit) 於是可以藉 著如此快速而又簡易的方法測出。 本文即在呈現整個測試系統的發展過程,包括數學模型的建立,軟、硬體 架構的開發,以及典型的熱電半導體特性測試結果。 |
本系統之摘要資訊系依該期刊論文摘要之資訊為主。