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題 名 | 微處理機系統與高等監督程式之研製 |
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作 者 | 張良德; | 書刊名 | 四海工專學報 |
卷 期 | 6 1991.06[民80.06] |
頁 次 | 頁115-134 |
分類號 | 448.595 |
關鍵詞 | 系統; 程式; 微處理機; 監督; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 本文主要是研究如何發展一套建築在自製微處理機系統上的高等監督程式(Advanced Monitor,簡稱為AM);AM有別於一般監督程式是因為其具備下列特性:(1)AM除了設定硬體晶片外,其也可偵測晶片的好壞(時序問題除外),大幅提升了硬體的信賴度。 (2)直接組譯器及反組譯器的功能,使操作者更能瞭解組合語言的語法格式。 (3)單步執行追蹤程式,可以協助使用者來偵測使用者程式之執行路徑及語意錯誤 (Sematic Error)的所在。 (4)可移視窗架構,使得小螢幕能觀看大面積資料,猶如「放大鏡看物體」,移到那裡看到那裡。 在實作方面以8086╱88 CPU為例,來探討以上各項的可行性,並做相關之研究。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。