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來源資料
電路板季刊
110 2026.01[民115.01]
頁31-42
工程學總論
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題 名
材料高頻介電特性量測技術之發展=Development of High-Frequency Dielectric Properties Measurement Techniques for Materials
作 者
陳炯雄
;
書刊名
電路板季刊
卷 期
110 2026.01[民115.01]
頁 次
頁31-42
分類號
440.34
關鍵詞
高頻材料
;
介電特性
;
毫米波
;
次太赫茲
;
量測技術
;
語 文
中文(Chinese)
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