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題名 | 太赫茲技術應用於化合物半導體材料分析=Terahertz Technologies for Compound Semiconductor Materials Inspection |
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作 者 | 陳治誠; 許永周; 程婷; | 書刊名 | 工業材料 |
卷期 | 441 2023.09[民112.09] |
頁次 | 頁89-97 |
專輯 | 化合物半導體粉體晶錠與晶片材料分析技術專題 |
分類號 | 448.65 |
關鍵詞 | 化合物半導體; 表面缺陷; 晶相缺陷; 太赫茲波; 非破壞檢測; Compound semiconductor; Surface defect; Crystallographic defects; Terahertz wave; Non-destructive inspection; |
語文 | 中文(Chinese) |