您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
真空科技
35:1 2022.03[民111.03]
頁9-20
電學;電子學
>
電子光學;離子光學 Electron ; Ion Optics
相關文獻
穿透式電子顯微鏡的臨場觀測介紹
穿透式電子顯微鏡(TEM)在半導體製程之應用
新世代穿透式電子顯微鏡試片製備技術於磁、光電及半導體元件實務應用
穿透式電子顯微鏡於產業之應用
TEM影像軟體中畫素對於量測不確定度之影響
電子顯微鏡:揭開肉眼看不見的世界
淺談TEM分析上常見的主要困惑
纖維素奈米纖維複合材的穿透式電子顯微鏡(TEM)觀察技術
臨場觀測鐵在氧化鋅中的原子級擴散行為及結構控制成長方向之動力學研究
鋼鋁片鍍層與化成塗膜表面分析技術之應用
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
穿透式電子顯微鏡的臨場觀測介紹=Introduction to In-situ Observation in Transmission Electron Microscope
作 者
詹敦潔
;
李育全
;
薛宇翔
;
呂煉明
;
蕭開元
;
呂明諺
;
書刊名
真空科技
卷 期
35:1 2022.03[民111.03]
頁 次
頁9-20
分類號
337.97
關鍵詞
穿透式電子顯微鏡
;
臨場觀測
;
TEM
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址