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| 題 名 | 新世代穿透式電子顯微鏡試片製備技術於磁、光電及半導體元件實務應用=New Generation Technology of Specimen Preparation for Transmission Electron Microscope: Application in Magnetic, Optoelectronic, and Semiconductor Devices |
|---|---|
| 作 者 | 黃榮潭; 江正誠; 殷開明; 開執中; 陳福榮; | 書刊名 | 科儀新知 |
| 卷 期 | 25:5=139 2004.04[民93.04] |
| 頁 次 | 頁46-58 |
| 分類號 | 471.713 |
| 關鍵詞 | 磁元件; 光電元件; 半導體元件; 穿透式電子顯微鏡; TEM; |
| 語 文 | 中文(Chinese) |