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來源資料
量測資訊
204 2022.03[民111.03]
頁123-130
精密機械工藝
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光學儀器
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題 名
基於偏振與干涉術之旋轉誤差量測技術
作 者
許敬澤
;
書刊名
量測資訊
卷 期
204 2022.03[民111.03]
頁 次
頁123-130
專 輯
精密量測技術專輯
分類號
471.7
關鍵詞
雙折射晶體
;
偏振相機
;
偏振干涉術
;
滾轉角量測技術
;
語 文
中文(Chinese)
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