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題名 | High Precision Aspheric Surface Testing Utilizing a Birefringent Crystal=以雙折射晶體作超精密非球面元件測試 |
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作 者 | 章明; 劉曉軍; 李柱; | 書刊名 | 中國機械工程學刊 |
卷期 | 22:2 2001.04[民90.04] |
頁次 | 頁93-98 |
分類號 | 446.8401 |
關鍵詞 | 雙折射晶體; 非球面元件測試; Aspheric surface testing; Birefringent crystal; |
語文 | 英文(English) |