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來源資料
科儀新知
226 2021.03[民110.03]、 : = . [ . ]
頁82-85
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光學儀器
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題 名
原子力顯微儀發展趨勢「精準探測」=Development Trends of Atomic Force Microscopy--Precision Detection
作 者
蘇健穎
;
書刊名
科儀新知
卷 期
226 2021.03[民110.03]
頁 次
頁82-85
分類號
471.7
關鍵詞
原子力顯微儀
;
AFM
;
語 文
中文(Chinese)
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