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題 名 | 電子顯微鏡與X光散射整合技術於奈米材料開發之應用=The Applications of Electron Microscopy and X-ray Scattering Integrated Techniques for Nano-material Development |
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作 者 | 蔡任豐; 陳育祥; 林榆喬; 羅聖全; 蔡任豐; | 書刊名 | 工業材料 |
卷 期 | 375 2018.03[民107.03] |
頁 次 | 頁112-119 |
專 輯 | 高階整合性顧問型檢測服務平臺 |
分類號 | 440.12 |
關鍵詞 | 低電壓顯像; 低溫電鏡; 小角度X光散射; Low-voltage imaging; Cryo electron microscopy; Cryo-EM; Small angle x-ray scattering; SAXS; |
語 文 | 中文(Chinese) |