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題名 | 球差校正電鏡、臨場與低溫電鏡檢測技術於產業應用之研究=The Progress and Application of Advanced Electron Microscopy: Cs-corrected, In-situ and Low Temperature Transmission Electron Microscopy (TEM) |
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作者 | 張睦東; 謝承佑; 陳育祥; 羅聖全; | 書刊名 | 工業材料 |
卷期 | 349 2016.01[民105.01] |
頁次 | 頁99-106 |
專輯 | 高階檢測分析技術專題 |
分類號 | 471.713 |
關鍵詞 | 球差校正電鏡; 臨場電鏡; 低溫電鏡; 次原子解析能譜影像; Cs-corrected transmission electron microscopy; Cs-corrected-TEM; In-situ TEM; Low temperature TEM; Sub-Å resolution spectrum image; |
語文 | 中文(Chinese) |