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來源資料
科儀新知
209 2016.12[民105.12]
頁14-28
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題 名
掃描微波阻抗顯微鏡:介電常數與電導率的奈米級成像=Scanning Microwave Impedance Microscope: Nanoscale Mapping of Permittivity and Conductivity
作 者
黃壯群
;
李春增
;
楊永亮
;
陳彥甫
;
黃壯群
;
李春增
;
陳彥甫
;
楊永亮
;
楊永亮
;
書刊名
科儀新知
卷 期
209 2016.12[民105.12]
頁 次
頁14-28
專 輯
奈米檢測技術專題
分類號
471.713
關鍵詞
介電常數
;
電導率
;
原子力顯微鏡
;
掃描微波阻抗顯微鏡
;
語 文
中文(Chinese)
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