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題名 | LED晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發=An Automatic Optical Inspection System Development for LED Chip Defects |
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作者 | 陳銘福; 周志忠; 陳志文; 翁睿謙; 黃鴻基; Chen, Ming-fu; Chou, Chih-chung; Chen, Chih-wen; Weng, Rui-cian; Huang, Hung-ji; |
期刊 | 科儀新知 |
出版日期 | 20150300 |
卷期 | 202 2015.03[民104.03] |
頁次 | 頁6-15 |
分類號 | 448.59 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 晶粒; 瑕疵; 自動光學檢測; LED; |