您的瀏覽器不支援或未開啟JavaScript功能,將無法正常使用本系統,請開啟瀏覽器JavaScript功能,以利系統順利執行。
返回
/NclService/
快速連結
跳到主要內容
:::
首頁
關於本站
網站導覽
聯絡我們
國家圖書館
English
開啟查詢結果分析
查詢資訊
期刊論文索引(找篇目)
期刊指南(找期刊)
近代 (1853-1979年) 港澳華文期刊索引
漢學中心典藏大陸期刊論文索引
中國文化研究論文目錄
期刊瀏覽
檢索歷程
期刊授權
出版機構
公佈欄
常見問題
軟體工具下載
:::
首頁
>
查詢資訊
>
期刊論文索引查詢
>
詳目列表
查詢結果分析
來源資料
量測資訊
164 2015.07[民104.07]
頁55-59
相關文獻
主動矩陣有機發光二極體表面瑕疵檢測研究
低溫多晶矽全彩有機EL顯示器技術開發
應用統計多重比較檢定法於紡織品印刷不良之檢測
不織布線上表面瑕疵檢測技術之研究(1)--系統建置與檢測方法
主動式有機發光二極體顯示器(AMOLED)現況與發展趨勢
AMOLED LTPS缺陷檢測技術
基於灰階權重式密度分群演算法之晶圓表面瑕疵檢測
AMOLED顯示器關鍵製程檢測技術
建立以重疊區域為基礎之特徵選取指標應用於PCB瑕疵分類
LTPS TFTs的應用:AMOLEDs
頁籤選單縮合
基本資料
引用格式
國圖館藏目錄
全國期刊聯合目錄
勘誤回報
我要授權
匯出書目
題 名
主動矩陣有機發光二極體表面瑕疵檢測研究
作 者
陳心怡
;
書刊名
量測資訊
卷 期
164 2015.07[民104.07]
頁 次
頁55-59
分類號
448.552
關鍵詞
主動矩陣有機發光二極體
;
表面瑕疵檢測
;
AMOLED
;
語 文
中文(Chinese)
頁籤選單縮合
推文
引用網址
引用嵌入語法
Line
FB
Google bookmarks
本文的引用網址:
複製引用網址
本文的引用網址:
複製引用網址