查詢結果
檢索結果筆數(3)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
-
-
題 名:
高速線掃描之晶背瑕疵自動光學檢測系統:An AOI System for Chip Backside Defects Based on a High Rate Line Scanner
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:6=194 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁41-50
-
題 名:
-
-
題 名:
衛星科學酬載海洋環境照相儀:Marine Environment Multi-Spectral Imager of Satellite Scientific Payload
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:1=195 2013.08[民102.08]
- 頁 次:
頁34-54
-
題 名:
-
-
題 名:
LED晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發:An Automatic Optical Inspection System Development for LED Chip Defects
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
202 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁6-15
-
題 名: