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| 題 名 | The Study of Nano-thin Film Measurement Based on Surface Plasmon Excitation=基於表面電漿子激發的奈米薄膜量測之研究 |
|---|---|
| 作 者 | 廖志雄; 林聖峰; 姚奕欣; 張詠諭; 蔡宗霖; | 書刊名 | 黃埔學報 |
| 卷 期 | 67 2014.11[民103.11] |
| 頁 次 | 頁71-76 |
| 分類號 | 448.59 |
| 關鍵詞 | 表面電漿子; 奈米薄膜量測; Kretschman組態; 共振角; Surface Plasmons; Nano Thin Film Measurement; Kretschmann Structure; Angle of Resonance; |
| 語 文 | 英文(English) |
| 中文摘要 | 表面電漿子以廣泛在光電領域、薄膜量測、光調制器、化學感測器等方面的應用,本研究特別集中在奈米薄膜的研究,擬研發出新穎的表面電漿子奈米金屬薄膜量測儀。根據三層反射率公式,搭配Kretschman組態結構,將數據帶入進行電腦模擬運算,即可找出表面電漿波R對θ圖以及Rmin-d圖,由這些關係圖我們得到結論:Rmin對金銀銅的薄膜的厚度有很靈敏的反應,其等級在奈米尺度。由此我們可以設計基於表面電漿子激發的奈米金屬薄膜測量儀器。其次是對於不同的稜鏡而言,Rmin-d圖的靈敏度沒多大改變。此外金屬薄膜厚度的改變對共振角幾乎沒有影響。 |
| 英文摘要 | Surface plasmons have used in vary applications such as photoelectric devices, thin film measurement, photo-modification, and chemical sensors. In this study, we focus on the investigation of the nano thin film measurement. We expect to develop a novel instrument nano thin film measurement. Using the reflectivity formula of Kretschman configuration 3-layer system, we have finished some calculations and simulations. According to the results, we find that the minimum of reflectivity (Rmin) is influenced by metallic thin film (d) largely, in nanometer order. Whereby we can design a nano-metal thin film measurement equipment based on surface Plasmon excitation. Furthermore, the minimum of reflectivity (Rmin) is almost not affected by prism. In addition, the resonant angle is not influenced by the metallic thin film. |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。