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來源資料
量測資訊
163 2015.05[民104.05]
頁46-51
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題名
利用x射線反射儀(XRR)搭配電子能量損失能譜(EELS)於前瞻半導體高介電常數薄膜之特性研究
作者
簡筠珊
;
書刊名
量測資訊
卷期
163 2015.05[民104.05]
頁次
頁46-51
分類號
448.552
關鍵詞
x射線反射儀
;
電子能量損失能譜
;
XRR
;
EELS
;
語文
中文(Chinese)
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